BRUKER
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品牌介绍：BRUKER
公司简介：
BRUKER致力于让科学家能够取得突破性发现，并开发新的应用以提高人类生活质量。BRUKER的高性能科学仪器和高价值的分析和诊断解决方案使科学家能够探索分子、细胞和微观层面的生命和材料。
凭借与客户的密切合作，BRUKER在生命科学分子研究、应用和制药应用以及显微镜、纳米分析和工业应用等领域实现了创新突破和生产力提升，并创造了诸多客户成功案例。近年来，BRUKER也成为细胞生物学、临床前成像、临床影像学和蛋白质组学研究、临床微生物学和分子病理学研究的高性能系统的提供者。
如今，BRUKER分布在全球的 9700 多名员工正在各大洲的 90 多个工作地应对这一长期挑战。BRUKER坚持以其广泛的产品和解决方案以及广泛的安装系统基础在客户中享有盛誉。作为世界领先的分析仪器公司之一，BRUKER致力于进一步充分满足客户需求，并不断为当今的分析研究工作开发先进的技术和创新的解决方案。
产品类型：
CBRNE 探测器
DE-tector flex
特点：
关键基础设施的访问控制的概念已广为人知。但是，当需要对公众实施此类控制时，则需要采取其他安全措施。
例如，在机场和监狱中，需要对公众进行筛查，以确定他们是否接触过爆炸物（机场）还是麻醉品（监狱）。这是很容易通过痕量检测器实现的，因为这些违禁物质污染个人物品，即使在洗涤后。
BRUKER DE-tector flex 是一种痕量探测系统，能够完美地满足这两个典型应用的要求。通过用非刮擦、一次性拭子擦拭个人的财物并将其插入 DE-tector flex 中，可以在几秒钟内自动识别这两类物质的痕迹。
规格：
新一代探测系统
这种创新的第三代系统具有远远超过现有设计的系统的功能。其新型双管 IMS 系统有助于探测和识别普通爆炸物和麻醉品，且有能力扩展以适应新的物质。
DE-tector flex 的核心是使用BRUKER现场验证的非放射性 HEPI 源的单电离室。屏幕上显示的数据可以限制为 "红绿灯" 形式的显示，或扩展为双极性图谱系列进行详细评估。延展的测量数据文档允许对过去的测量结果进行完整检索。
DE-tector flex 规格：
行业标准 IMS 探测技术
单管具有快速极性开关，具有更好的探测灵敏度
非放射性 HEPI 源
可重新使用的采样棉签
降低运营成本
BRUKER广受好评的"红绿灯"软件
最短（一年）维修间隔
无校准/验证
符合 CE 标准
内置充电电池，可独立操作 1 小时
衍射仪和 X 射线显微镜
D8 DISCOVER
亮点：
光子/mm²
高亮度X射线源
X射线源：具有出色的亮度，如IµS微焦点X射线源和HB-TXS高亮度Turbo X射线源HB-TXS。
300 mm
最 大样品尺寸
外壳宽敞，可容纳直径最 大为300 mm的大型样品。
50 kg
最高样品重量
BRUKER的UMC样品台，可容纳最 大的样品。
D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。
应用范围：
定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析
X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）
总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）
特点：
配备了MONTEL光学器件的IµS微焦源可提供高强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。
应用:
X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：
掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。
X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
应力和织构（择优取向）分析。
D8 DISCOVER 规格:
| 规格 | 优势 |
TWIST-TUBE | 轻松在点焦点和线焦点之间切换 可用阳极材料：Cr、Cu、Mo、Ag 最高功率和灯丝：最高3 kW，取决于阳极材料（0.4 x 16mm²） 专利：EP 1 923 900 B1 | 快速改变波长，以理想地匹配不同应用 可以最快的速度在线焦点和点焦点之间极快切换，因此扩展了应用范围，并且可在更短的时间内，获得更好的结果。 |
IµS微焦源 | 功率负载：最高50 W，单相功率 MONTEL和MONTEL Plus光学器件：结合了平行镜和聚焦镜 光束尺寸：低至180 x 180 µm² 镜出口最 大积分通量：8 x 10⁸ cps 光束发散度：低至0.5 mrad | 毫米大小的光束：高亮度和超低背景 绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命更长 优化光束形状和发散，以获得最 佳结果 |
Turbo X射线源（TXS） | 线焦点：0.3x3mm² 焦点亮度：6 kW /mm² 阳极材料：Cu、Co、Cr、Mo 最 大电压50 kV，功率取决于阳极材料：Cr ：3.2 kW；Cu / Mo：5.4 kW；Co：2,8 kW 预对准钨丝 | 强度是标准陶瓷X射线源的5倍。 是线焦点和点焦点应用的理想之选 预对准的灯丝支持快速更换，极大地降低了对重新对准的要求。 |
TRIO Optics | 软件按钮切换： 电动发散狭缝（Bragg-Brentano） 高强度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利：US10429326、US6665372、US7983389 | 可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换，无需人工干预 是所有类型的样品的理想之选，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
高分辨率单色器 | 对称几何和非对称几何中的Ge（220）和Ge（004）反射 2-b和4-b（Bartels型）单色器 利用SNAP.LOCK技术，进行免对准安装 | 在最 佳分辨率与强度平衡方面，为您提供广泛选择，助您获取最 佳结果 可快速更换单色器，针对不同样品进行优化 |
元素分析仪
G4 PHOENIX DH
描述：
准确、快速的扩散氢测量可让您避免氢脆、氢致开裂和其他代价高昂的失效
氢引起的损害是一种广泛和可怕的 现象。在焊接过程中，氢气产生于分离 水蒸气（如湿度）或焊接电弧中的碳氢化合物，以及 熔融的金属可以迅速吸收氢气。一旦进入金属， 氢原子可以迅速扩散在微观结构内 金属。可扩散氢气导致氢气诱发开裂（也已知 作为冷裂或延迟开裂），其中部件在机械应力影响下失效 - 突然和没有事先指示。因此 扩散氢的评估对于氢脆，氢气诱导或辅助开裂（HIC/HAC）或氢气延迟 断裂等破坏性影响非常重要。
G4 PHOENIX DH， 利用载气体热抽取进行快速自动提取 在各种基质中测定可扩散氢。
主要优势：
高端、长期稳定的热导检测器 （TCD）， 带专用参考气体通道， 热量 交换器和 ng/g 分析功能
独特的红外 （IR） 低热质量的炉子，用于精确控制温度， 可编程快速加热（和冷却）高达 900°C，接受大样品
可选的热电偶套件，用于直接样品温度读数
附加电阻加热炉，可提供高达 1100°C 的高温
具有10种不同体积的适合于整个分析范围的自动和可靠的气体校准单元
外部采样罐的可选接口，用于涵盖 ISO 3690 的 GC 方法
G4 带四极质谱仪 改进了检测 限制超过一个数量级，用于评估 超低可扩散氢浓度或同位素及研究 钢中不同的氢陷阱
G4 PHOENIX 技术参数
| 规格 | 优点 |
探测器 |
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G4 PHOENIX | 带参考通道和可调增益放大器的导热探测器 | 可靠、可调节的范围，无漂移 |
G4 PHOENIX 质谱 | 质谱仪，m/z 范围 1-100 amu，单四极，优化的 EI 源和通道探测器 | 独特的质谱性能 |
炉 |
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红外加热 | IR 炉 uop 至 900 oC，即石英管 30 mm，水冷，光电热电偶套件，用于直接样品温度读数 | 精确的温度控制，灵活的加热程序，接受大样本 |
电阻加热（选件） | 附加电阻加热炉高达 1100 oC，即石英管 18 mm | 多相双相钢中的残余氢气 |
载气 | 氮气 99.995% 纯度，最小 2 巴（±50 psi），99.9990% 纯度，用于微量分析 | 使用再生分子筛进行预清洗 |
校准气体 | 使用纯气体（H2 或 He）或经过认证的混合物（每个组件纯度为 99.999%），可自动气体剂量校准系统，可处理 10 个单独体积 | 简单、精确的气体校准，无需标准，可追溯至 p、T、V |
冷却水 | 1 升/分钟 = 3 巴（44 psi） | 快速冷却，标准自来水兼容，节水设计与停水阀，冷水机组也是可能的 |
电源 |
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G4 PHOENIX | 230 VAC (± 10 %), 50-60 Hz, 2200 VA | 行业标准电源和电流配置 |
分子振动光谱
MATRIX II-MG Series
可配置高性能气体分析。
MATRIX II-MG 系列由四台高性能 FT-IR 气体分析仪组成，外壳紧凑坚固。它们专为自动化、高精度和实时监测多种不同应用中的气体浓度而设计。无论您想要何种应用，您都可以根据自己的需求配置系统：
选择您的探测器。
有多种不同类型的探测器可满足您的需求：具有出色灵敏度的探测器（液氮或斯特林冷却 MCT）、具有扩展光谱范围的探测器 (DLaTGS) 或在没有液氮但仍需要低检测限时的探测器 (TE-MCT)。
高光谱分辨率和快速分析。
超过 1.0 cm -1 的很好光谱分辨率（可选超过 0.5 cm -1）有助于分析具有大量重叠红外特征的复杂气体混合物。此外，高达 5 Hz 的高扫描速率和 0.5 cm -1的分辨率，结合快速气体交换选项，可以探索催化反应等快速过程。
无需校准的量化。
MATRIX II-MG 系列由气体分析软件OPUS GA操作。该软件可以量化超过 350 种化合物，而无需进行校准测量。为了准确量化，在整个分析过程中不断记录气体的压力和温度。
鲁棒性。
永 久对准的 RockSolid TM干涉仪具有出色的抗震性。多路气室中的镜子镀金，具有高耐腐蚀性。MATRIX II-MG01 可以分析浓度特别高的腐蚀性气体，因为它的气室镀有 PTFE，并且采用单程测量方法，可防止腐蚀性气体与镜子直接接触。
高压力。
高压选项可在高达 15 bar 的压力（标准：高达 2 bar）和高达 30 °C 的温度下进行气体测量。该选项特别适合检测极低气体浓度（例如杂质），以及在高压条件下进行工业在线气体测量。
为您的气体优化气体室。
气室具有不同的光程长度，范围从 10 厘米到 26 米，可用于精确测定很宽浓度范围内的混合比，从百分比水平到十亿分之一 (ppb)。选择最 佳光程长度需要在最小化噪声水平和优化红外光传输之间取得平衡。这种方法确保即使在处理百分比范围内浓度的红外活性化合物气体混合物时，也不会出现过饱和的红外光谱。此外，为了防止凝结，光程长度高达 5 米的气室可以加热到 180 °C 以上的温度。
磁共振
ELEXSYS - II E500连续波电子顺磁共振波谱仪
描述:
高灵敏度 CW-EPR - SuperX：ELEXSYS-II 为 CW-EPR 提供出色的灵敏度
X 波段 ELEXSYS-II 仪器配有 SuperX 功能和新的信号处理单元（SPU）。SuperX 由一个精选的高功率、超低噪声的双枪源和超高 Q 腔组成。
这些设备的组合使 X 波段的 CW-EPR 的灵敏度提高了一个量级。对于传统的灵敏度测量，BRUKER规定 E500 CW-EPR 波谱仪的弱间距信噪比为 3000:1。
信号处理单元（SPU）是一个高度集成的设备，可以满足现代 CW-EPR 的所有采集模式。总共有 8 个信号输入通道和各种触发模式，即使是不属于标准 EPR 领域的实验也可以掌握。
此处展示的是 SuperX 系统灵敏度提高的一个例子，是在标准空腔中（左）和使用 SuperX 系统（右）从 Cu²⁺ 组氨酸获得的波谱。在标准空腔中出现的是一个微弱的和无信息的波谱，而在新的 SuperX 系统中则是一个清晰的和解析良好的波谱。
特点:
E500 亮点和标准功能:
SuperX 微波单元，世界纪录级别的灵敏度
超高分辨率现场控制器
数字快速现场扫描模块
固定和时间解析实验
多用途信号处理单元 （SPU）
参考自由旋转计数
Xepr 软件包
技术参数:
微波源:Gunn（耿氏）固体源
数字化分辨率:32 bits
磁场均匀性:10 mG@10 (Z) х 10 (X) х 22 (Y) mm（10英寸 磁体）或12 mG@10 (Z) х 10 (X) х 22 (Y) mm（9.5 英寸磁体）
磁体重量:≤1900 kg（10英寸磁体）或 ≤ 900 kg（9.5英寸磁体）
最 大磁场强度:14500 G（10英寸磁体）或 13000 G（9.5英寸磁体）
可检测的绝对最小自旋数（以弱沥青为标样）:1.0 x 10e9 自旋数 / G 线宽
信噪比（以弱沥青为标样）:3000：1
信号前置放大器频率范围:30 Hz 至 6.5 MHz
一次磁场扫描的最 大扫描范围:-18 kG 至 +18 kG
信号转换速率:320 微秒/点 至 5 秒/点
磁场扫描速度:1500 G/ 5s
最 大调制幅度:20 G
调制频率:80 Hz 至 200 kHz
检测模式:锁相、快扫和瞬态模式
锁相模式下同时谐波检测:可达 5 阶，0/90调制相位
快扫模式下的扫描速率:可达 200 Hz（5 ms 扫描 200 G）
瞬态检测模式:8 ns 时间分辨率
瞬态模式下的采样速率:125 MHz
瞬态模式下最 大采样点数:16000 点
磁场稳定性:10 mG / 小时
显微镜
Dimension Edge PSS 原子力显微镜
Dimension EDGE PSS
BRUKER的Dimension Edge™ PSS原子力显微镜与AutoMET™软件是LED基板和外延片制造商最理想的纳米计量和纳米检测系统。作为Dimension EDGE AFM 平台的延伸，Edge PSS 融合了 Dimension AFM 系统广为人知的扫描技术和超高分辨率，同时也为半导体基片生产提供了测量的解决方案。
特征：
PSS 分析的最高分辨率
随着蓝宝石基板 PSS结构 的间距趋近 2 微米，传统的共聚焦技术失去了提供有价值的工艺测量所需的分辨率。Dimension Edge PSS 原子力显微镜 （AFM） 拥有亚纳米分辨率和一次测量多达 9 个 2 英寸晶圆（或单个 4 或 6 英寸晶圆）的能力，能够解决测量中的高分辨、高效的需求，提供了PSS 制造过程所需要进行的大量检测数据。
除了Dimension EDGE PSS 内置的特定 PSS 测量功能外，该系统还集成了 BRUKERDimension 显微镜系列有名的扫描技术，适用于外延粗糙度测量中高分辨率、低噪声的要求，包括了轻敲模式、接触模式、相位测量等标准的AFM模式以及AFM专有的抬高模式。
高级 PSS 计量能力
Dimension EDGE PSS AFM 提供纳米分辨率，用于分析 PSS 基板的每个关键参数，同时可以进行但晶圆的多点以及多个晶圆的多点测试。BRUKER的专用 PSS 分析包可以同时提供：
高度、宽度和间距
侧壁角度和特征轮廓
不对称识别和测量
污染识别
转弯识别和转弯角度
平顶识别
产品应用领域：
工业、化学、制药、半导体、太阳能、生命科学、纳米、食品、环境
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